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低價格、半導體硅片紅外測溫儀DT40P , 300~1300°C

德國DIAS紅外公司公告52 - 2018-08-28 10:19:23


 

低價格、半導體硅片紅外測溫儀DT40P  , 300~2500°C 

 

測溫范圍:300~1300°C ,400~1400°C ,500~2500°C

波長:3.43μm

最小可測目標:Φ1.6mm @ 95mm

 

主要應用:

 

1) 半導體制造硅片測溫


2) 塑料薄膜(聚丁烯、聚苯乙烯、聚亞胺酯、乙烯基、尼龍)

 

詳細瀏覽:德國DIAS硅片測溫紅外測溫儀DT40P

 

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